产品介绍：

       本设备通过制作大量的视觉对照标本，能够实现硅片的厚度、线痕、隐裂、孔洞、脏污、崩边、尺寸等多项检测项的同时检测，检测速度快，精度高，指标远超同类设备；采用自己开发的AOI检测平台大大提升瑕疵检出率，同时平台免费开放给客户使用，可以选择增加新的硅片检测对照标本，兼容新产品的检测升级。

产品特点：

       检测速度快、检测精度高、换产简单易操作。

产品优势：

       1、多线程处理，检测速度快，单产品尺寸检测1S以内。

       2、精度高，分辨率可达0.02mm。

设备参数：