深度学习在外观缺陷检测领域的应用,攻克了传统算法被复杂成像背景干扰的问题,以及无法对缺陷类型稳定分类等问题,因此在缺陷检测领域中,深度学习具有更多的优势。
随着AI人工智能技术的快速发展,AI智能检测技术也逐步开始在工业领域进行应用,目前已广泛应用于3C电子、医药、汽车、新能源等行业,其结合传统算法可实现对缺陷产品进行高精度的外观检测。 自主研发的深度学习平台算法、软件,操作部署简单,易于使用,可靠的应用于产线生产检测中。
磁铁在生产过程中,尤其在烧制阶段,磁铁表面存在开裂、崩边、变形等情况,且磁铁表面形态各异,色差、亮度均不同,传统识别算法无法稳定检测。基于深度学习的AI智能检测技术可以很好的解决产品表面复杂背景的干扰,使磁铁外观检测更加容易、更加稳定。
现状:玻璃基板在生产、搬运过程中,会存在开裂、崩边、破损等情况。
痛点:传统识别算法无法对缺陷稳定分类,且较轻微裂痕无法稳定检测。
优势:可实现裂痕、崩边、破损、脏污等缺陷类型检测分类,且检测细节更加细腻,系统更加稳定。
产品特点:1、采用线扫相机高速运动拍照,运动速度最快2米/秒。2、多相机组合实现全面屏检测。3、面检+边检双模式检测。4、独特打光方案对屏幕表面的细微划痕成像效果极佳。
技术参数:关键缺陷0漏检;综合检出率>95%;误检率<1%;每件CT<1秒;缺陷检测精度<0.05mm。
现状:无线耳机出音网装配的好坏直接影响耳机的整体外观和性能。
痛点:出音网装配过程中存在网偏、网破、脏污、重网等缺陷,传统识别算法因复杂成像背景的干扰无法稳定检测。
优势:可以实现对出音网装配质量的检测,且检测细节更加细腻,检测更加稳定。
产品特点:1、多机位多通道,效率更高。2、独特的算法性能对较小的边缘网偏有较好的检出率。3、相机错位安装解决上下网布干扰的问题。
技术参数:关键缺陷0漏检;综合漏检率小于0.5%;误检率<0.5%;每件CT<1秒;缺陷检测精度<0.02mm。
现状:传感器在生产过程中,会存在端子歪斜、少端子、PCB不良、封边不良等问题
痛点:传统识别算法因复杂成像背景的干扰无法稳定检测。
优势:可以实现对传感器生产质量的检测,且检测性能稳定。
产品特点:1、自动上下料。2、数据实时上传MES。3、可兼容多种产品类型。4、多相机多工位检测 。
技术参数:关键缺陷0漏检;综合漏检率小于0.5%;误检率<3%;每件CT<0.3秒;生产效率1万+/小时。
现状:传感器在生产过程中,会存在端子歪斜、少端子、PCB不良、封边不良等问题
痛点:传统识别算法因复杂成像背景的干扰无法稳定检测。
优势:可以实现对传感器生产质量的检测,且检测性能稳定。
产品特点:1、自动上下料。2、数据实时上传MES。3、可兼容多种产品类型。4、多相机多工位检测 。
技术参数:关键缺陷0漏检;综合漏检率小于0.5%;误检率<3%;每件CT<0.3秒;生产效率1万+/小时。
现状:标签纸在打印过程中,会因少墨、多墨导致打印的字符存在缺失、漏印等不良。
痛点:因字符是可变的非固定印刷字符,传统识别算法无法稳定检测。
优势:可实现可变字符的缺陷检测,且检测性能更加精细、可靠。
产品特点:1、双相机同步检测,可兼容宽窄料检测。2、可变字符缺陷检测,识别率高。3、NG产品实时标记。
技术参数:关键缺陷0漏检;综合漏检率小于0.5%;误检率<1%;每件CT<0.5秒。
痛点:在背板生产组装过程中存在划伤、镭雕不良等缺陷,传统识别算法因复杂成像背景的干扰无法稳定检测。
优势:可以实现对生产组装质量的检测,提高成品质量。
产品特点:1、可兼容多种颜色产品类型。2、多相机同步检测,精度高,速度快。
技术参数:关键缺陷0漏检;综合漏检率小于0.5%;误检率<1%;每件CT<1秒;缺陷检测精度<0.02mm。
痛点:胶塞生产过程中存在缺损、脏污、白斑、异色、冲偏、尺寸不合格等缺陷。
优势:可以实现对胶塞外观缺陷进行检测,有效的避免了不良产品的流出。
产品特点:1、可兼容多种产品类型。2、数据可视化、智能化处理。3、双通道效率更高。
技术参数:关键缺陷0漏检;综合漏检率小于0.5%;误检率<1%;生产效率提升30%;节省人力2人。
痛点:砖块生产过程中存在裂纹、缺角、碎裂等陷,常规视觉无法实现稳定检测。
优势:可以实现对不良外观缺陷进行检测,有效的避免了不良产品的流出。
产品特点:1、可兼容多种产品类型。2、数据可视化、智能化处理。3、同时六面检测,效率高。
技术参数:关键缺陷0漏检;综合漏检率小于0.5%;误检率<1%;生产效率提升80%;节省人力2人。